Многослойные эпитаксиальные кремниевые структуры с субмикронными слоями, выращенные сублимационной молекулярно-пучковой эпитаксией

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Многослойные кремниевые диодные структуры с базовыми субмикронными слоями n- и p-типов проводимости были выращены методом сублимационной молекулярно-пучковой эпитаксии. Профили распределения концентрации носителей заряда (электронов и дырок) определяли методом вольт-фарадных характеристик. Использование кремниевых сублимационных источников, вырезанных из кремниевых слитков, которые были легированы фосфором или бором, дает возможность достичь однородного распределения концентрации носителей заряда по толщине слоев и экстремально резкого профиля на границе их с Si подложкой. Такие структуры могут успешно применяться для изготовления диодов.

Об авторах

В. Г. Шенгуров

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Email: shengurov@phys.unn.ru
Нижний Новгород, Россия

А. М. Титова

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Email: asya_titova95@mail.ru
Нижний Новгород, Россия

Н. А. Алябина

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Email: asya_titova95@mail.ru
Нижний Новгород, Россия

В. Ю. Чалков

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Email: asya_titova95@mail.ru
Нижний Новгород, Россия

С. А. Денисов

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Email: asya_titova95@mail.ru
Нижний Новгород, Россия

А. В. Здоровейщев

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского

Автор, ответственный за переписку.
Email: asya_titova95@mail.ru
Нижний Новгород, Россия

Список литературы

  1. Гусятинер М.С., Горбачев А.И. Полупроводниковые сверхвысокочастотные диоды. – М.: Радио и связь. – 1983. – 224 с.
  2. Вишнякова З.П. Молекулярно-лучевая эпитаксия в полупроводниковом производстве. Обзоры по электронной технике сер. 2. Полупроводниковые приборы. Вып. 7. – 1985. – С. 128.
  3. Heitzman M., Boudot M. New progress in the development of a 94–6 Hz pretuned module silicon impatt diode // IEEE Trans.Electron Devices. – 1983. – V. 30. – P. 759–763.
  4. Bean J.C. Grow of doped silicon layer by molecular beam epitaxy // Impurity doping / Ed. by FFY Wang-N.Y.: North-Holland. – 1981. – P. 177–215.
  5. Shiraki Y. Silicon molecular beam epitaxy // Ext. Abstr. 15th conf. “Solid-State Devices and Mater” Tokyo. – 1983. – P. 7–10.
  6. Методы легирования слоев кремния в процессе сублимационной молекуляно-лучевой эпитаксии / В. Г. Шенгуров, С. П. Светлов, В. Ю. Чалков и др. // Физика и техника полупроводников. – Т. 2. – 2006. – С. 188–194.
  7. Nutzer J.F., Abstreiter F. Comparison of P and Sb as n-dopants for Si molecular beam epitaxy // J. Appl. Phys. – 1995. – V. 78. – P. 937–940.
  8. Установка для сублимирующей молекулярно-лучевой эпитаксии кремния / С. П. Светлов, В. Г. Шенгуров, В. А. Толомасов и др. // Приборы и техника эксперимента. – 2001. – № 5. – С. 137–140.
  9. Кузнецов В.П. О переносе примесей P, As, Al из источника кремния в слои, полученные сублимацией в вакууме / В. П. Кузнецов, В. В. Постников // Кристаллография. – 1974. – Т. 2. – С. 346.
  10. Субмикронные эпитаксиальные слои кремния, легированные донорными примесями в процессе испарения их из расплава кремния в вакууме / В. Г. Шенгуров, В. Н. Шабанов, В. А. Рубцова // Материалы VII Конференции по процессам роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок 9–13 июня 1986, Новосибирск. – Т. 1. – С. 273–274.
  11. Шенгуров В.Г. Многослойные кремниевые структуры, полученные совместным испарением из твердой фазы и из расплава // Неорганические материалы. – Т. 37. – 2001. – С. 783–787.
  12. Обогащение бором приповерхностной области кремния в процессе сублимации / В. А. Толомасов, В. В. Васькин, М. И. Овсянников и др. // Физика и техника полупроводников. – 1981. – Т. 15. – С. 104.
  13. Автоэпитаксиальные слои кремния, полученные сублимацией в вакууме из высоколегированных бором источников / М. И. Овсянников, Р. Г. Логинова, Р. А. Рубцова и др. // Кристаллография. – 1970. – Т. 6. – С. 1261.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».