Автор туралы ақпарат
Yarykin, N. A.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 53, № 4 (2019) | Nonelectronic Properties of Semiconductors (Atomic Structure, Diffusion) | Effect of Nickel and Copper Introduced at Room Temperature on the Recombination Properties of Extended Defects in Silicon |