Photoinduced phenomena in amorphous As4S3Se3–Sn films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

We investigate the kinetics of photodarkening and recording of holographic diffraction gratings in amorphous As4S3Se3 thin-film structures doped with tin (Sn) in concentrations of 0–10 at %. It is established that an increase in the Sn concentration leads to a decrease in the photodarkening rate and degree. The photodarkening kinetics is approximated by a stretched exponential function. It is found that an increase in the Sn concentration leads to a decrease in the transmission (photodarkening) variation in the investigated As4S3Se3–Sn films. It is determined that, in the recording of holographic diffraction gratings at a Sn concentration of 3–8 at %, the As4S3Se3–Sn films exhibit the maximum sensitivity and diffraction efficiency of the recorded gratings. It is shown that the dependence of diffraction efficiency on the As4S3Se3 film thickness has the maximum at a film thickness of 4 µm.

Об авторах

O. Iaseniuc

Institute of Applied Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: oxana.iaseniuc@phys.asm.md
Молдавия, Chisinau, MD-2028

I. Cojocaru

Institute of Applied Physics

Email: oxana.iaseniuc@phys.asm.md
Молдавия, Chisinau, MD-2028

A. Prisacar

Institute of Applied Physics

Email: oxana.iaseniuc@phys.asm.md
Молдавия, Chisinau, MD-2028

A. Nastas

Institute of Applied Physics

Email: oxana.iaseniuc@phys.asm.md
Молдавия, Chisinau, MD-2028

M. Iovu

Institute of Applied Physics

Email: oxana.iaseniuc@phys.asm.md
Молдавия, Chisinau, MD-2028

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).