Interaction of an Electromagnetic H Wave with a Thin Metal Film on a Dielectric Substrate in the Case of an Anisotropic Fermi Metal Surface


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The interaction of an electromagnetic H wave with a thin metal film has been calculated with allowance for the ellipsoidal Fermi surface and constancy of the electron mean free path for different angles of incidence of the electromagnetic wave θ and different coefficients of specular reflection q1 and q2 at reflection of electrons from the film surfaces. The metal film is between two media with permittivities ε1 and ε2. The dependences of reflectance R, transmission T, and absorption A on the effective mass of conduction electrons have been analyzed.

Об авторах

I. Kuznetsova

Demidov Yaroslavl State University

Email: romanov.yar357@mail.ru
Россия, Yaroslavl, 150003

D. Romanov

Demidov Yaroslavl State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: romanov.yar357@mail.ru
Россия, Yaroslavl, 150003

A. Yushkanov

Moscow Oblast State University

Email: romanov.yar357@mail.ru
Россия, Moscow, 105005

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).