Optical Reflectometry, Metrology, and Sensing. Present and Future (Review) - PDF (Орыс тілі)


© М.А. Таранов, Б.Г. Горшков, А.Э. Алексеев, Ю.А. Константинов, А.Т. Туров, Ф.Л. Барков, Zinan Wang, Zhiyong Zhao, Mohd Saiful Dzulkefly Zan, Е.В. Колесниченко, 2023

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).