Пайдаланушы

Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?	Тіркеу

Кілтсөздер Förster effect bipolar transistor charge qubit diagnostics dissociation etching fluorocarbon gases kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling molecular beam epitaxy plasma polymerization quantum dot radiation intensity resistive switching silicon simulation testing

Мақала құралдары

Метрика

Іздеу

Іздеу

Іздеу аумағы Барлығы Авторлар Атауы Түйіндеме Терминдер Толық мәтін

Парақтау

• шығарылымдар
• Автор бойынша
• атаулары бойынша
• басқа журналдар

Ағымдағы шығарылым

Том 54, № 4 (2025)

Хабарламалар

• Қарау
• Тіркелу