Effect of a low-temperature-grown GaAs layer on InAs quantum-dot photoluminescence


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The photoluminescence of InAs semiconductor quantum dots overgrown by GaAs in the low-temperature mode (LT-GaAs) using various spacer layers or without them is studied. Spacer layers are thin GaAs or AlAs layers grown at temperatures normal for molecular-beam epitaxy (MBE). Direct overgrowth leads to photoluminescence disappearance. When using a thin GaAs spacer layer, the photoluminescence from InAs quantum dots is partially recovered; however, its intensity appears lower by two orders of magnitude than in the reference sample in which the quantum-dot array is overgrown at normal temperature. The use of wider-gap AlAs as a spacer-layer material leads to the enhancement of photoluminescence from InAs quantum dots, but it is still more than ten times lower than that of reference-sample emission. A model taking into account carrier generation by light, diffusion and tunneling from quantum dots to the LT-GaAs layer is constructed.

Об авторах

A. Kosarev

Ioffe Physical–Technical Institute; Peter the Great Saint-Petersburg Polytechnic University

Email: chald.gvg@mail.ioffe.ru
Россия, ul. Politekhnicheskaya 26, St. Petersburg, 194021; ul. Politekhnicheskaya 29, St. Petersburg, 195251

V. Chaldyshev

Ioffe Physical–Technical Institute; Peter the Great Saint-Petersburg Polytechnic University

Автор, ответственный за переписку.
Email: chald.gvg@mail.ioffe.ru
Россия, ul. Politekhnicheskaya 26, St. Petersburg, 194021; ul. Politekhnicheskaya 29, St. Petersburg, 195251

V. Preobrazhenskii

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: chald.gvg@mail.ioffe.ru
Россия, pr. Akad. Lavrent’eva 13, Novosibirsk, 630090

M. Putyato

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: chald.gvg@mail.ioffe.ru
Россия, pr. Akad. Lavrent’eva 13, Novosibirsk, 630090

B. Semyagin

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: chald.gvg@mail.ioffe.ru
Россия, pr. Akad. Lavrent’eva 13, Novosibirsk, 630090

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).