Single fault detection test sets with respect to stuck-at faults at the outputs of gates in formulas over one basis of Zhegalkin type

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

The article establishes the exact values of the Shannon function of the cardinality of a single fault detection test set with respect to stuck-at faults at outputs of gates in formulas over the basis \( \{\, x \& y,\; x \oplus y,\; x \sim y \,\}\ \)

.

作者简介

Zhenyu Cui

Lomonosov Moscow State University

编辑信件的主要联系方式.
Email: ourobros1234@gmail.com

Dmitrii Romanov

Email: romanov@cs.msu.ru
Doctor of physico-mathematical sciences, Associate professor

参考

  1. S. M. Reddy, “Easily testable realization for logic functions”, IEEE Trans. Comput., C-21:11 (1972), 1183–1188
  2. K. L. Kodandapani, “A note on easily testable realizations for logic functions”, IEEE Trans. Comput., C-23:3 (1974), 332–333

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML

版权所有 © Cui Z., Romanov D.S., 2025

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).